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日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代
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简单介绍
日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代[万仪科技],用于陶瓷、断热材料材料放射测量是在常温状态下，能快速方便的测量各种材质的放射率。适用各种研究机关、生产线、各材质表面处理之微小变化数值化，蓄热、断热材料之放射率测量，钢铁厂、半导体材质的放射率研究测量等。
日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代[万仪科技],用于陶瓷、断热材料材料放射测量原理：侦测并计算由定温放射源产生之远红外线照射之反射能量。
日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代
的详细介绍日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代[万仪科技],用于陶瓷、断热材料材料放射测量
日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代,用于陶瓷、断热材料材料放射测量是在常温状态下，能快速方便的测量各种材质的放射率。适用各种研究机关、生产线、各材质表面处理之微小变化数值化，蓄热、断热材料之放射率测量，钢铁厂、半导体材质的放射率研究测量等。
日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代理测定原理：侦测并计算由定温放射源产生之远红外线照射之反射能量。
TSS-5X-2红外发射率检测仪技术规格：
测定波长：2～22μm
测定范围：放射率0.00～1.00
测量精度：±0.01以内
测定面积：Φ15mm
测定距离：12mm
材料温度：10～40℃（室温）
数值显示：LED数位显示
输 出：0～0.1V；0～1V Full-Scale
环境温度：10～45℃
环境湿度：35～85％（无结露状态）
使用电源：AC100~240V, 50/60Hz
外型尺寸：本体H156 x W306 x D230 mm, 2.8Kg
探侧头Φ51 X L137 mm, 0.6Kg
附 属 品：放射率0.06, 0.97基准片各一片，收纳箱一个。
制 造 商：日本侦测器株式会社
日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代理证书
简单介绍：
日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代[万仪科技],用于陶瓷、断热材料材料放射测量是在常温状态下，能快速方便的测量各种材质的放射率。适用各种研究机关、生产线、各材质表面处理之微小变化数值化，蓄热、断热材料之放射率测量，钢铁厂、半导体材质的放射率研究测量等。
日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代[万仪科技],用于陶瓷、断热材料材料放射测量原理：侦测并计算由定温放射源产生之远红外线照射之反射能量。
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